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FTIR系列
SICD系列
Eos200
6&8寸硅基外延层膜厚测量
Eos200lite
6&8寸SiC外延层膜厚测量
Eos300+
12寸元素与外延膜厚测量自动设备
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上海市浦东新区盛夏路570号1幢402室
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服务热线:销售经理:冯忠平 15895446509
联系邮箱:service@avantsemi.com.cn
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