CN
| EN
电玩城下载app
关于优睿谱
产品中心
新闻动态
公司新闻
技术资讯
招贤纳士
公司文化
企业招聘
联系电玩城下载app
CN
| EN
电玩城下载app
关于优睿谱
产品中心
新闻动态
公司新闻
技术资讯
招贤纳士
公司文化
企业招聘
联系电玩城下载app
Application Scenarios
应用场景
应用场景
适用于碳化硅衬底及同质外延片电阻率(载流子浓度)测量
Si衬底外延层厚度测量(6&8&12寸)
GaAs、InP衬底外延层厚度测量(4&6&8寸)
SiC衬底外延层厚度测量(4&6&8寸)
SOI片顶层硅厚度测量(4&6&8寸)
锗硅外延制程工艺外延层厚度测量
分子束外延(MBE)外延层厚度测量
光刻胶厚度及CMP抛光后的厚膜厚度测量
?上一页
1
...
2
3
4
5
6
关于优睿谱
|
产品中心
|
新闻动态
|
招贤纳士
|
联系电玩城下载app
公司地址
上海市浦东新区盛夏路570号1幢402室
联系方式
市场与销售:sales@avantsemi.com.cn
求职招聘: talent@avantsemi.com.cn
服务邮箱: service@avantsemi.com.cn
微信公众号
Copyright © 2022- 电玩城下载app-中国有限分公司 All Rights Reserved. 腾云建站仅向商家提供技术服务
网站地图
:沪ICP备2022024075号-1
XML 地图
|
Sitemap 地图